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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點(diǎn)擊量:1976 更新日期:2024-07-24
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    高低溫探針臺(tái) 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測(cè)試 用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點(diǎn)擊量:655 更新日期:2024-07-16
  • T8-LY100高??蒲袑?shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)

    高??蒲袑?shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái) 可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測(cè),用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點(diǎn)擊量:688 更新日期:2024-07-16
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