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應(yīng)用范圍： 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、MEMS 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙極性電源相匹配，通過真正的雙極性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。 磁場(chǎng)探針臺(tái) 半導(dǎo)體測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)

電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應(yīng)儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測(cè)量復(fù)雜的切換繼電器——開關(guān)組裝成一體，大大減化了實(shí)驗(yàn)的連線與操作。JH10 可單獨(dú)做恒流源、微伏表使用。 霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 材料測(cè)試系統(tǒng)

用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的，因此霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性*的工具。 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 高阻型測(cè)試儀器

FCP磁場(chǎng)控制器 控制特征： TESTIK475型高斯計(jì)努力保持確切的磁場(chǎng)密度，用戶輸入的控制設(shè)定點(diǎn)，用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場(chǎng)控制平臺(tái)集成了硬件和控制部件來形成一個(gè)變化的磁場(chǎng)平臺(tái)，可以被獨(dú)立的被利用或做為用戶設(shè)計(jì)的測(cè)量系統(tǒng)的一個(gè)基礎(chǔ)。